自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備(ATE)是一種設(shè)計(jì)用于在被測(cè)設(shè)備(DUT)的不同設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試的機(jī)器，設(shè)備使用控制系統(tǒng)和自動(dòng)化信息技術(shù)來(lái)快速執(zhí)行測(cè)量和評(píng)估被測(cè)設(shè)備的測(cè)試。
自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備可以簡(jiǎn)單也可以復(fù)雜，這取決于所測(cè)試的設(shè)備，ATE測(cè)試用于無(wú)線通信、雷達(dá)以及電子元器件制造，還有專門用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的半導(dǎo)體ATE。
有一些簡(jiǎn)單的ATE系統(tǒng)，如測(cè)量PC中電阻和電壓的伏特-歐姆表，也有一些復(fù)雜的ATE系統(tǒng)，它們有幾個(gè)測(cè)試機(jī)制，可以自動(dòng)運(yùn)行電子診斷，如半導(dǎo)體器件制造或集成電路的晶圓測(cè)試，大多數(shù)高科技的ATE系統(tǒng)使用自動(dòng)化來(lái)快速執(zhí)行測(cè)試。
ATE的目標(biāo)是快速確認(rèn)被測(cè)設(shè)備是否工作并發(fā)現(xiàn)缺陷，這種測(cè)試方法節(jié)省了制造成本，有助于防止故障設(shè)備進(jìn)入市場(chǎng)，由于ATE被廣泛應(yīng)用于dut中，因此每個(gè)測(cè)試都有不同的過(guò)程，所有測(cè)試中的一個(gè)實(shí)際情況是，當(dāng)檢測(cè)到一個(gè)超差值時(shí)，測(cè)試停止，被測(cè)設(shè)備無(wú)法通過(guò)評(píng)估。
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